FT-330系列普通四探針電阻率測試儀
FT-330系列普通四探針電阻率測試儀 按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及USB兩種接口，本機(jī)采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應(yīng)、探針不等距和機(jī)械游移等外部因素對測量結(jié)果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進(jìn)步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準(zhǔn)確.
FT-330系列普通四探針電阻率測試儀 本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.
FT-330系列普通四探針電阻率測試儀 廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等FT-330系列普通四探針電阻率測試儀
| 規(guī)格型號 | FT-331 | FT-332 | FT-333 | FT-334 | FT-335 | FT-336 |
| 1.方塊電阻范圍 | 10-5～2×105Ω/□ | 10-4～2×103Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ | 10-3～2×103Ω/□ | 10-2～2×105Ω/□ | 10-2～2×103Ω/□ |
| 2.電阻率范圍 | 10-6×106Ω-cm | 10-5×104Ω-cm | 10-4～2×106Ω-cm | 10-4～2×104-cm | 10-3～2×106Ω-cm | 10-3～2×104-cm |
| 3.測試電流范圍 | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 10μA，100µA，1mA，10mA， 100 mA | 0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA | 1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
| 4.電流精度 | ±0.1%讀數(shù) | ±0.2%讀數(shù) | ±0.2%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) | ±0.3%讀數(shù) |
| 5.電阻精度 | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
| 6.顯示讀數(shù) | 液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 | |||||
| 9.整機(jī)不確定性誤差 | ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果） | |||||
| 10.選購功能 | 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 | |||||
| 11.測試探頭 | 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 | |||||
FT-346雙電測四探針電阻率測試儀
本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
FT-346雙電測四探針電阻率測試儀 參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍：10-2～2×105Ω/□
2.電阻率范圍：10-3～2×106Ω-cm
3.測試電流范圍：0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.3%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.5%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺
11.測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
FT-346雙電測四探針電阻率測試儀
ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).
專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原
型號:CN61M251813 便攜式四探針電阻率測試儀
| 便攜式四探針電阻率測試儀 型號:CN61M251813 | |
| 概述 便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)一級機(jī)的水平。 測量范圍： 可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當(dāng)被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片 （3） 直流數(shù)字電壓表 測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個字） （4） 供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5） 使用環(huán)境： 相對濕度≤80% （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭 壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC |
型號:CN61M251813便攜式四探針電阻率測試儀 型號:CN61M251813
| 便攜式四探針電阻率測試儀 型號:CN61M251813 | |
| 概述 便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)一級機(jī)的水平。 測量范圍： 可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當(dāng)被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片 （3） 直流數(shù)字電壓表 測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個字） （4） 供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5） 使用環(huán)境： 相對濕度≤80% （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭 壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC | 產(chǎn)品圖片  |
M251813便攜式四探針電阻率測試儀 型號:M251813
| 便攜式四探針電阻率測試儀 型號:M251813 | |
| 概述 便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。 它主要由電器測量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)一級機(jī)的水平。 測量范圍： 可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當(dāng)被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片 （3） 直流數(shù)字電壓表 測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個字） （4） 供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5） 使用環(huán)境： 相對濕度≤80% （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭 壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC | 產(chǎn)品圖片 |
DL04-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀 ，便攜式四探針電阻率檢測儀
便攜式四探針電阻率測試儀 便攜式四探針電阻率檢測儀
型號:DL04-KDY-1A
概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。
它主要由電器測量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)級機(jī)的水平。
測量范圍：
可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當(dāng)被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)
恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
（3） 直流數(shù)字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準(zhǔn)確度：0.2%（±2個字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用環(huán)境：
相對濕度≤80%
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×高100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC
DL04-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀, 便攜式四探針電阻率測量儀
便攜式四探針電阻率測試儀 便攜式四探針電阻率測量儀 便攜式四探針電阻率檢測
型號:DL04-KDY-1A
概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計(jì)。
它主要由電器測量部份（主機(jī)）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)級機(jī)的水平。
測量范圍：
可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當(dāng)被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)
恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
（3） 直流數(shù)字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準(zhǔn)確度：0.2%（±2個字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用環(huán)境：
相對濕度≤80%
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×高100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC
FT-336四點(diǎn)探針測試儀技術(shù)參數(shù)
四點(diǎn)探針測試儀技術(shù)參數(shù)儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項(xiàng)目要求選購.
四點(diǎn)探針測試儀技術(shù)參數(shù)技術(shù)參數(shù)
1.方塊電阻范圍：10-2～2×103Ω/□
2.電阻率范圍：10-3～2×104Ω-cm
3.測試電流范圍：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.3%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.5%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測試方式: 普通單電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺
11.測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).
專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原
FT-336四點(diǎn)探針測試儀
溫馨提示：半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)性能和均勻性通過四探針法來測試，四探針測試儀根據(jù)量程可以劃分為，低阻四探針測試儀測到-6次方；高阻四探針測試儀測到7次方至9次方；，雙電測四探針測試儀測到-5次方到5次方，單電測四探針測試儀-5次方到5次方，
我們解決半導(dǎo)體材料電性能測量問題，上述都是我們產(chǎn)品，歡迎和我們交流—瑞柯儀器
FT-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀
FT-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀。
參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□
2.電阻率范圍：10-5～2×106Ω-cm
3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.3%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺
11.測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
ROOKO/瑞柯品牌，來自瑞柯儀器公司，一個專注于改變?nèi)藗兩罘绞胶推焚|(zhì)的企業(yè).
專業(yè)與精致并重；優(yōu)秀與智慧之原
FT-341雙電四探針測試儀,雙電四探針電阻率測試儀
FT-340系列雙電測電四探針方阻電阻率測試儀
FT-340 Series Double electric four-probe resistance ratio tester
一.應(yīng)用說明：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試
硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜， EMI 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，
二．描述：
采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理.
HPS2561四探針電阻率測試儀
測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量。
測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴(kuò)散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量。
專用四端探針測試線！
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