SpectraThick7000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick7000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專(zhuān)用）
SpectraThick7000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick6000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick6000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞剑允欠墙佑|式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專(zhuān)用）
SpectraThick6000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick5000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick5000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞剑允欠墙佑|式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專(zhuān)用）
SpectraThick6000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick4000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick4000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專(zhuān)用）
SpectraThick4000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick3000薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick3000薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1) 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4) 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6) 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7)可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)超大型Stage (PDP專(zhuān)用)
SpectraThick3000薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m(Depends on Film Type) |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick4000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick4000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專(zhuān)用）
SpectraThick4000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick5000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick5000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞剑允欠墙佑|式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專(zhuān)用）
SpectraThick6000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick6000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick6000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專(zhuān)用）
SpectraThick6000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
SpectraThick7000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x
SpectraThick7000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。
2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3） 測(cè)量迅速正確，且不必為測(cè)量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。
4） 可測(cè)量3層以內(nèi)的多層膜。
5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。
6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品
7）可測(cè)量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）
8）超大型Stage （PDP專(zhuān)用）
SpectraThick7000 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)
| Stage Size | ~1700mm x 1200mm Automation Thickness Measurement |
| Measurement Range | 100?~ 50μ m（Depends on Film Type） |
| Spot size | 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m |
| Measurement Speed | 1~2sec/site Typically |
| Application Areas | Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP |
| Option | Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera |
| Function | Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement |
CHY-C2A電子薄膜厚度測(cè)量?jī)x PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測(cè)量?jī)x
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