<button id="y0k2s"></button>
  • <del id="y0k2s"></del>
  • <cite id="y0k2s"></cite>
    <bdo id="y0k2s"><strong id="y0k2s"></strong></bdo>
    <cite id="y0k2s"><center id="y0k2s"></center></cite>
    <center id="y0k2s"><acronym id="y0k2s"></acronym></center>
  • <button id="y0k2s"><source id="y0k2s"></source></button>

    其他產(chǎn)品及廠家

    EMMC 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
    emmc 控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試
    更新時(shí)間:2025-05-15
    EMMC 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
    emmc 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試這是個(gè)典型的電源紋波測(cè)試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測(cè)試結(jié)果大大改善。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
    emmc4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試實(shí)際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測(cè)電路地上,中心導(dǎo)體通過個(gè)隔直電容連接被測(cè)的電源信號(hào)。這種方法的優(yōu)點(diǎn)是低成本,低衰減比,缺點(diǎn)是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試
    相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試通俗的來(lái)說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
    emmc4 , 復(fù)位測(cè)試 , clk測(cè)試 , dqs測(cè)試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗(yàn)、電源管理、時(shí)鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
    emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    EMMC5 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試
    emmc5 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試mmc通過發(fā)cmd的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個(gè)階段idle state、ready state、identification state。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC5 復(fù)位測(cè)試
    emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc5 復(fù)位測(cè)試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會(huì)進(jìn)入該階段。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
    相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測(cè)試 , 時(shí)鐘測(cè)試 , 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 , emmc5 , 上電時(shí)序測(cè)試
    更新時(shí)間:2025-05-15
    CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
    相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試data strobe 時(shí)鐘信號(hào)由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號(hào)相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號(hào)只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試 電源紋波測(cè)試
    相關(guān)產(chǎn)品:clk測(cè)試 , dqs測(cè)試 , emmc4 , 上電時(shí)序測(cè)試 , 電源紋波測(cè)試
    更新時(shí)間:2025-05-15
    電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
    電源紋波測(cè)試 時(shí)鐘測(cè)試 數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試
    更新時(shí)間:2025-05-15
    控制信號(hào)測(cè)試 控制信號(hào)過沖測(cè)試 控制信號(hào)高低電平測(cè)試 EMMC 復(fù)位測(cè)試
    數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開始接收 response。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 Emmc5 上電時(shí)序測(cè)試
    數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc5 上電時(shí)序測(cè)試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號(hào)保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時(shí),host 可以很方便檢測(cè)到該信號(hào),并開始接收 response。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    CLK測(cè)試 DQS測(cè)試  EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試,眼圖測(cè)試
    clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試,眼圖測(cè)試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值,不包含 start bit。各個(gè) data line 上的 crc 為對(duì)應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗(yàn)值。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 EMMC4 復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試
    數(shù)據(jù)信號(hào)測(cè)試 emmc4 復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試在 ddr 模式下,data line 在時(shí)鐘的上升沿和下降沿都會(huì)傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    復(fù)位測(cè)試 CLK測(cè)試 DQS測(cè)試 EMMC4 上電時(shí)序測(cè)試
    復(fù)位測(cè)試 clk測(cè)試 dqs測(cè)試 emmc4 上電時(shí)序測(cè)試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時(shí),host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測(cè)試過程(bus testing procedure),測(cè)試總線硬件上的連通性。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具
    泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測(cè)試夾具,硬件測(cè)試,ddr測(cè)試,時(shí)序測(cè)試,紋波測(cè)試,抖動(dòng)測(cè)試
    更新時(shí)間:2025-05-15
    MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題
    mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個(gè)聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲(chǔ)接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試
    mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試基于示波器的當(dāng)抖動(dòng)測(cè)量工具在條通道上只提供個(gè)眼圖。在通用測(cè)量中,這些工具只有6-8個(gè)測(cè)量項(xiàng)目。dpojet全面支持所有通道,包括同時(shí)測(cè)量每條通道的眼圖。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 MIPI傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
    mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測(cè)試 mipi傳輸過程中的信號(hào)質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動(dòng)問題 重起問題
    更新時(shí)間:2025-05-15
    硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動(dòng)問題
    硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動(dòng)問題
    更新時(shí)間:2025-05-15
    MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng)
    mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng)
    更新時(shí)間:2025-05-15
    MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn)
    mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn)
    更新時(shí)間:2025-05-15
    MIPI調(diào)試經(jīng)驗(yàn) MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗(yàn) MIPI 接口的sensor問題
    mipi調(diào)試經(jīng)驗(yàn) mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動(dòng) 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗(yàn) mipi 接口的sensor問題
    更新時(shí)間:2025-05-15
    MIPI攝像頭 MIPI眼圖測(cè)試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
    mipi攝像頭 mipi眼圖測(cè)試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時(shí)序:
    更新時(shí)間:2025-05-15
    JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀 氣動(dòng)飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
    商品名稱:juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機(jī)型:juki系列機(jī)型
    更新時(shí)間:2025-05-15
    土工布透水性測(cè)定儀 土工布透水性
    運(yùn)用jigaotest系統(tǒng)設(shè)計(jì)研發(fā)的一款用來(lái)檢測(cè)土工合成材料及相關(guān)復(fù)合材料在垂直方向水流透過率的測(cè)試設(shè)備!⊥凉げ纪杆詼y(cè)定儀 土工布透水性
    更新時(shí)間:2025-05-15
    大體積混凝土溫度測(cè)試儀
    大體積混凝土溫度測(cè)試儀,該儀器可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)大體積混凝土凝固過程中因釋放水化熱引起的混凝土內(nèi)部的溫升,從而可及時(shí)做出應(yīng)對(duì)策略,避免混凝土因溫升造成的開裂等嚴(yán)重后果。此儀器系統(tǒng)主要適用于鐵路、水利、電力、市政、建筑等領(lǐng)域;可對(duì)混凝土內(nèi)部溫度進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè),并可通過無(wú)線網(wǎng)絡(luò)與計(jì)算機(jī)進(jìn)行通信,實(shí)現(xiàn)了真正意義上的遠(yuǎn)程監(jiān)控。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    出租Tektronix USB2.0測(cè)試夾具
    出租tektronix usb2.0測(cè)試夾具
    更新時(shí)間:2025-05-15
     保溫砂漿拉力機(jī),砂漿拉力機(jī)簡(jiǎn)介,
      本試驗(yàn)機(jī)適用于測(cè)定各種保溫砂漿的粘結(jié)強(qiáng)度,也可用于符合本試驗(yàn)機(jī)條件的其它試驗(yàn)。液晶顯示、可與微機(jī)連接實(shí)現(xiàn)微機(jī)控制。具有造型美觀,設(shè)計(jì)合理,性能穩(wěn)定,結(jié)構(gòu)緊湊操作方便優(yōu)點(diǎn)。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    CMT微機(jī)控制電子多功能試驗(yàn)機(jī),電子多功能試驗(yàn)機(jī)說明書,
    主要用于各種保溫材料及金屬、非金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲強(qiáng)度等力學(xué)性能測(cè)試和分析研究。可自動(dòng)求取reh、rel、rp0.2、fm、rt0.5 、rt0.6、rt0.65、rt0.7、rm、e等試驗(yàn)參數(shù),并可根據(jù)gb、iso、din、astm、jis等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供數(shù)據(jù)。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    LSY-1瀝青混凝土斜坡流淌值試驗(yàn)儀,混凝土斜坡流暢試驗(yàn)儀功能,
    一、 適用范圍:用于測(cè)定瀝青混凝土斜坡流淌值。符合dl/t5362-2006水工瀝青混凝土試驗(yàn)規(guī)程。適用于骨料最大粒徑不大于26.5mm室內(nèi)成型的試件和現(xiàn)場(chǎng)鉆取的芯樣。二、儀器的組成:
    更新時(shí)間:2025-05-15
    電子多功能試驗(yàn)機(jī)、土工布綜合強(qiáng)力試驗(yàn)機(jī),土工綜合強(qiáng)力試驗(yàn)儀
    主要用于各種土工合成材料及金屬、非金屬材料的拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)性能測(cè)試和分析研究。可自動(dòng)求取reh、rel、rp0.2、fm、rt0.5 、rt0.6、rt0.65、rt0.7、rm、e等試驗(yàn)參數(shù),并可根據(jù)gb、iso、din、astm、jis等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)和提供數(shù)據(jù)。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    炭黑含量測(cè)定儀,黑含量測(cè)定儀參數(shù),
    依據(jù)jtge50-2006公路土工合成材料試驗(yàn)規(guī)程設(shè)計(jì)制造、適用于聚乙烯、聚丙烯、聚丁烯塑料中炭黑含量的測(cè)定。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    土工合成材料垂直滲透儀,土工垂直滲透儀功能,合成材料滲透儀,
    依據(jù)sl235-2012土工合成材料垂直滲透系數(shù)標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)設(shè)計(jì)。適用于各類土工材料垂直滲透的測(cè)量,性能穩(wěn)定,方便實(shí)用
    更新時(shí)間:2025-05-15
    土工布CBR頂破試驗(yàn)儀,CBR頂破試驗(yàn)儀,
    適用于土工布,土工膜,復(fù)合土工膜,鋼塑格柵,塑料格柵,防排水板,膨潤(rùn)土防水毯等土工合成材料各種強(qiáng)力強(qiáng)度的測(cè)試. 具有液晶顯示、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    TSY-35塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀,塑料薄膜測(cè)定儀參數(shù),
    薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試,還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    土工膜脹破強(qiáng)度測(cè)定儀,土工膜破強(qiáng),度測(cè)定儀
    依據(jù)sl/t235-2012土工合成材料測(cè)試規(guī)程土工膜漲破強(qiáng)度的試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)研發(fā)設(shè)計(jì)。適用于各類土工膜漲破強(qiáng)度的測(cè)量,性能穩(wěn)定,方便使用。技術(shù)參數(shù):
    更新時(shí)間:2025-05-15
    糙面土工膜毛糙高度測(cè)定儀,土工膜測(cè)定儀參數(shù),
    依據(jù)gb/t17643-2001標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造,主要適用于糙面土工膜及其相關(guān)產(chǎn)品的厚度測(cè)量,具有使用方便,測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn)。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    TSY-33糙面土工膜毛糙高度測(cè)定儀,土工膜高度測(cè)定儀現(xiàn)貨,
    依據(jù)gb/t17643-2001標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造,主要適用于糙面土工膜及其相關(guān)產(chǎn)品的厚度測(cè)量,具有使用方便,測(cè)量精度高等優(yōu)點(diǎn)
    更新時(shí)間:2025-05-15
    TSY-32氙弧燈老化試驗(yàn)箱,老化箱,
     氙弧燈耐氣候試驗(yàn)機(jī)采用能摸擬全陽(yáng)光光譜的氙弧燈來(lái)再現(xiàn)不同環(huán)境下存在的破壞性光波,可以為科研、產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量控制提供相應(yīng)的環(huán)境模擬和加速試驗(yàn)。desn型氙燈試驗(yàn)箱可用于新材料的選擇、改進(jìn)現(xiàn)有材料或評(píng)估材料組成變化后耐用性的變化試驗(yàn),可以很好的模擬在不同環(huán)境條件下,材料暴露在陽(yáng)光下所產(chǎn)生的變化。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    氙弧燈老化試驗(yàn)箱,氙孤燈老化箱參數(shù),
    一、產(chǎn)品概述本產(chǎn)品是以氙燈為光源,模擬和強(qiáng)化耐候性加速光老化的試驗(yàn)設(shè)備,以快速獲得近大氣老化的試驗(yàn)結(jié)果,用來(lái)評(píng)價(jià)材料的耐候性。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    SYL-5板式測(cè)厚儀,板式測(cè)厚儀參數(shù),
     依據(jù)gb/t5480-2008《礦物棉及其制品試驗(yàn)方法》設(shè)計(jì)制造的。本厚度儀適用于由礦物棉制成的板、帶厚度的測(cè)量。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    保溫材料取樣器,保溫材料取樣器,
    適用于外墻保溫材料的樣品制備,使用方便;經(jīng)久耐用;取樣直徑75mm
    更新時(shí)間:2025-05-15
    礦物棉密度測(cè)定儀,礦物面密度測(cè)定儀說明書,
    該儀器依據(jù)gb/t5480-2008礦物棉及其制品試驗(yàn)方法,渣球含量之標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制作,具有體積小,外形美觀實(shí)用等特點(diǎn)。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    SYL-8礦物棉振篩機(jī),礦物棉振篩機(jī)參數(shù),
    依據(jù)gb/t5480-2008礦物棉及其制品試驗(yàn)方法振篩機(jī)之標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制作,可對(duì)玻璃棉及其制品,礦物棉、巖棉、及其制品,硅酸鋁棉及其制品進(jìn)行試驗(yàn)分析。具有體積小、外形美觀實(shí)用等特點(diǎn),是實(shí)驗(yàn)室必備之儀器。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    SYL-9外墻外保溫抗沖擊試驗(yàn)儀,外墻保溫抗沖機(jī)
      根據(jù)jgj144-2004《外墻外保溫工程技術(shù)規(guī)程》研制的實(shí)驗(yàn)裝置。該裝置可對(duì)外墻外保溫系統(tǒng)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室或現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)。該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,使用方便,高度可調(diào)。采用磁力抓球方式,操作方便。整機(jī)移動(dòng)方便,適于在現(xiàn)場(chǎng)使用。
    更新時(shí)間:2025-05-15
    取樣器,取樣器
    依據(jù)gb/t5480-2008礦物棉及其制品試驗(yàn)方法之標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制作,可對(duì)玻璃棉及其制品,礦物棉、巖棉、及其制品,硅酸鋁棉及其制品進(jìn)行取樣試驗(yàn)分析。具有全不銹鋼制造、外形美觀實(shí)用等特點(diǎn)
    更新時(shí)間:2025-05-15
    SYL-11苯板切割機(jī),苯板切割機(jī)參數(shù),
     本機(jī)適用于切割各種苯板之必備儀器。具有切割精度高使用靈活方便等特點(diǎn)。是試驗(yàn)室理想的配套設(shè)備。
    更新時(shí)間:2025-05-15

    最新產(chǎn)品

    熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)(PH計(jì)) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
    亚洲AV无码专区在线播放,无码人妻中文字幕在线,国产2020最新精品视频,丰满人妻精品一区二区
    <button id="y0k2s"></button>
  • <del id="y0k2s"></del>
  • <cite id="y0k2s"></cite>
    <bdo id="y0k2s"><strong id="y0k2s"></strong></bdo>
    <cite id="y0k2s"><center id="y0k2s"></center></cite>
    <center id="y0k2s"><acronym id="y0k2s"></acronym></center>
  • <button id="y0k2s"><source id="y0k2s"></source></button>