型號:CN61M251813 便攜式四探針電阻率測試儀
| 便攜式四探針電阻率測試儀 型號:CN61M251813 | |
| 概述 便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。 本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計。 它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。 為減小體積，本儀器用同一塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)一級機的水平。 測量范圍： 可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。 可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口 當(dāng)被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。 （2）恒流源： 輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔 10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào) 10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào) 恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1% 適合測量各種厚度的硅片 （3） 直流數(shù)字電壓表 測量范圍：0～199.9mv 靈敏度：100μv 度：0.2%（±2個字） （4） 供電電源： AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W （5） 使用環(huán)境： 相對濕度≤80% （6） 重量、體積 重量：2.2 公斤 體積：寬210×高100×深240（mm） (7)KD探針頭 壓痕直徑：30/50μm 間距：1.00mm 探針合力：8±1N 針材：TC |
FT-351供應(yīng)高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)
1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□
2.電阻率范圍：10-6×106cm
3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.3%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10. 最高溫度： 1200℃可調(diào)節(jié)；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
11、升溫速度：9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定,一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃；功率：3kw.
12、爐膛材料：采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征。
13.專用測試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！
14.選購：電腦和打印機供應(yīng)高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)
采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進(jìn)的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
供應(yīng)高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)
三、功能介紹：液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
供應(yīng)高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)
FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)
一、概述：
采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置專用的高溫測試探針治具，滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進(jìn)的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
二、適用行業(yè)：
廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
三、功能介紹：液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
四、技術(shù)參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍：10-4～2×105Ω/□
2.電阻率范圍：10-5×106cm
3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.3%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10. 最高溫度： 1200℃可調(diào)節(jié)；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
11、升溫速度：9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定,一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃；功率：3kw.
12、爐膛材料：采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征。
13.專用測試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！
14.選購：電腦和打印機
DL04-KDY-1A便攜式四探針電阻率測試儀 ，便攜式四探針電阻率檢測儀
便攜式四探針電阻率測試儀 便攜式四探針電阻率檢測儀
型號:DL04-KDY-1A
概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導(dǎo)體材料電阻率的國際及國家標(biāo)準(zhǔn)測試方法有關(guān)規(guī)定設(shè)計。
它主要由電器測量部份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同塊數(shù)字表測量電流及阻率。樣品測試電流由高精寬的恒流源提供，隨時可進(jìn)行校準(zhǔn)，以確保電阻率測量的準(zhǔn)確度。因此本儀器不僅可以用來分先材料也可以用來作產(chǎn)品檢測。對1～100Ω•cm標(biāo)準(zhǔn)樣片的測量瓿差不超過±3%，在此范圍內(nèi)達(dá)到國家標(biāo)準(zhǔn)級機的水平。
測量范圍：
可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當(dāng)被測材料電阻率≥200Ω•cm數(shù)字表顯示0.00。
（2）恒流源：
輸出電流：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續(xù)可調(diào)
10mA量程：1mA ～10mA連續(xù)可調(diào)
恒流精度：各檔均優(yōu)于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
（3） 直流數(shù)字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準(zhǔn)確度：0.2%（±2個字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 功率8W
（5） 使用環(huán)境：
相對濕度≤80%
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×高100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC
北京SN/KDY-1四探針電阻率測試儀工作原理
四探針電阻率測試儀 方塊電阻測定儀
型號：SN/KDY-1
北京SN/KDY-1四探針電阻率測試儀工作原理是我公司嚴(yán)格按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進(jìn)。
整套儀器有如下特點：
1、 北京SN/KDY-1四探針電阻率測試儀工作原理配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。 數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ 0—9.999mV 靈敏度：1μV 輸入阻抗：10ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、 北京SN/KDY-1四探針電阻率測試儀工作原理可測電阻率范圍：0.001—6000Ω•cm。
3、 設(shè)有電壓表自動復(fù)零功能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、 流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。 電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、 儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、 可加配HQ-710E微處理機及打印機，實現(xiàn)自動換向測量、求平均值，計算并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。
7、 四探針頭采用國際上先進(jìn)的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測量重復(fù)性提高（國家知識產(chǎn)權(quán)局已于2005.02.02授予專利權(quán)，專利號：ZL03274755.1）。
KDY-1型四探針電阻率測試儀是我公司嚴(yán)格按照硅片電阻率測量的國際標(biāo)準(zhǔn)（ASTM F84）及國家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進(jìn)。
整套儀器有如下特點：
1、 配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。 數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV 靈敏度：10μV 輸入阻抗：1000ΜΩ 0—9.999mV 靈敏度：1μV 輸入阻抗：10ΜΩ 基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)
2、 可測電阻率范圍：0.001—6000Ω•cm。
3、 設(shè)有電壓表自動復(fù)零功能，當(dāng)四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、 流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之幾精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。 電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、 儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉(zhuǎn)換開頭及繼電器（＞10萬次），在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、 可加配HQ-710E微處理機及打印機，實現(xiàn)自動換向測量、求平均值，計算并打印電阻率最大值、最小值、最大百分變化率、平均百分變化率等內(nèi)容。
7、 四探針頭采用國際上先進(jìn)的紅寶石軸套導(dǎo)向結(jié)構(gòu)，使探針的游移率減小，測量重復(fù)性提高（國家知識產(chǎn)權(quán)局已于2005.02.02授予專利權(quán)，專利號：ZL03274755.1）。
DT304-WSP四探針電阻率測定儀 電阻率測試儀 半導(dǎo)體電阻率測試儀
FT-351高溫四探針電阻率測試儀
采用由四探針雙電測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫試驗箱結(jié)合配置用的高溫測試探針治具，滿足半導(dǎo)體材料因溫度變化對電阻值變化的測量要求，通過先進(jìn)的測控軟件可以顯示出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線，是檢驗和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
應(yīng)用域
高溫四探針電阻率測試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜的方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).
產(chǎn)品特點高溫四探針電阻率測試儀液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結(jié)果自動轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；
主要優(yōu)點采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.工作原理
雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
參數(shù)規(guī)格高溫四探針電阻率測試儀
1.方塊電阻范圍：10-4～2×105Ω/□
2.電阻率范圍：10-5×106cm
3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.3%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10. 高溫度： 1200℃可調(diào)節(jié)；沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
11、升溫速度：9999分鐘以內(nèi)自由設(shè)定,一般10分鐘內(nèi)即可升到900℃；功率：3kw.
12、爐膛材料：采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征。
13.用測試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！
14.選購：電腦和打印機
HPS2561四探針電阻率測試儀
測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量。
測試參數(shù)：電壓, 電阻率, 方阻, 電阻
四探針電阻率測試儀，可測量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率及擴散層的薄層電阻，適用于半導(dǎo)體和太陽能材料測試的要求，也可對分立電阻進(jìn)行測量。
專用四端探針測試線！
最新產(chǎn)品
- 非接觸DNA打斷儀 2025/6/9 14:12:32
- 安科瑞ADL200N-CT/D16 -WF-1海外光伏組串雙向計量電表 2025/6/9 14:11:39
- 超聲波打斷DNA儀器 2025/6/9 14:11:31
- CJ1W3002D歐姆龍 2025/6/9 14:09:08
- CJ1W3001F歐姆龍 2025/6/9 14:08:55
- CJ1W3000H歐姆龍 2025/6/9 14:08:39
- CJ1W0296R歐姆龍 2025/6/9 14:08:23
- CJ1W0295M歐姆龍 2025/6/9 14:08:10
- CJ1W0294B歐姆龍 2025/6/9 14:07:13
- CJ1W0293D歐姆龍 2025/6/9 14:07:00
- CJ1W0287M歐姆龍 2025/6/9 14:06:42
- CJ1W0286A歐姆龍 2025/6/9 14:06:28
- CJ1W0250M歐姆龍 2025/6/9 14:06:05
- CJ1W0249G歐姆龍 2025/6/9 14:05:44
- CJ1W0248R歐姆龍 2025/6/9 14:05:30
- CJ1W0247M歐姆龍 2025/6/9 14:05:19
- CJ1W0246B歐姆龍 2025/6/9 14:05:07
- CJ1W0245D歐姆龍 2025/6/9 14:04:40
- CJ1W0244F歐姆龍 2025/6/9 14:04:10
- CJ1W0243H歐姆龍 2025/6/9 14:03:57
- CJ1W0242M歐姆龍 2025/6/9 14:03:44
- CJ1W0241A歐姆龍 2025/6/9 14:03:32
- CJ1W0240C歐姆龍 2025/6/9 14:03:16
- 6參數(shù)水產(chǎn)養(yǎng)殖檢測儀 2025/6/9 13:59:49
- 赫爾納代理德國Glasmacher閉合力測量儀 2025/6/9 13:55:22
- 1噸電子式萬能試驗機上海廠家制造 2025/6/9 13:53:58
- 肩周炎腰椎盤突出疼痛康復(fù)理療體外沖擊波理療儀 2025/6/9 13:53:46
- 安科瑞ADL200N-CT/D16 -WF-1泰國屋頂太陽能監(jiān)控表 小型工商業(yè)光伏計量 離網(wǎng)/并網(wǎng)微逆電表 2025/6/9 13:51:47
- 安科瑞養(yǎng)殖場屋頂分布式光伏電站雙問計量表 2025/6/9 13:50:56
- 安科瑞 海外CE UL防逆流電流互感器 儲能逆變器電流互感器 2025/6/9 13:49:55