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粉塵掃描儀/表面清潔度測(cè)試儀

　　粉塵掃描儀測(cè)試步驟：

步驟1：過(guò)濾膜掃描

先，過(guò)濾膜的高分辨率掃描完整圖像會(huì)存儲(chǔ)在硬盤(pán)里。在每次掃描開(kāi)始時(shí)，掃描儀會(huì)自動(dòng)校準(zhǔn)，這保證了高重現(xiàn)性的亮度和對(duì)比度，不受LED亮度變化的影響。

步驟2：粒度測(cè)量

ISO-16232清潔度測(cè)試儀器（詳細(xì)請(qǐng)?jiān)L問(wèn)：http://www.hjunkel.cn/Product-484.html）掃描的圖像通過(guò)灰度值閾值的二進(jìn)制轉(zhuǎn)化為黑白格式。在二進(jìn)制圖像中，粒子的大小被自動(dòng)檢測(cè)。每個(gè)粒子的長(zhǎng)度，寬度，拉長(zhǎng)的長(zhǎng)度，面積，周長(zhǎng)等都會(huì)自動(dòng)計(jì)算出來(lái)。

步驟3：生成報(bào)告

由MicroReporter生成的清潔度測(cè)量報(bào)告直接顯示在Microsoft Excel®。語(yǔ)言種類(lèi)可以在英語(yǔ)和德語(yǔ)之間進(jìn)行切換。十個(gè)大的粒子會(huì)顯示在一個(gè)圖片庫(kù)的頁(yè)面。此外，還可以生成趨勢(shì)分析和審核報(bào)告。

粉塵掃描儀符合標(biāo)準(zhǔn)：

　　VDA-19 、ISO-16232

　　粉塵掃描儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

　　簡(jiǎn)便的清潔度測(cè)試

　　短短幾分鐘VDA-19標(biāo)準(zhǔn)粉塵掃描儀（詳細(xì)請(qǐng)?jiān)L問(wèn)：http://www.17agent.com.cn/Product-427.html）歡迎客戶來(lái)電咨詢：即可完成在過(guò)濾膜上的粒子分析，

　　免維護(hù)，低成本投資

粉塵掃描儀產(chǎn)品配套：

　　戴爾的Windows®個(gè)人電腦，預(yù)裝正版Microsoft Excel®。

　　高分辨率的平板掃描儀，帶用過(guò)濾膜支架和光學(xué)過(guò)濾器，LED照明。

　　軟件：掃描過(guò)濾膜并自動(dòng)進(jìn)行粒子分析。

　　Microreporter：樣品的清潔度報(bào)告工具（英文、德文可選），包括MicroGallery微顆粒圖片庫(kù)，MicroAnalysis分析報(bào)告和MicroTrend趨勢(shì)報(bào)告。

　　粉塵掃描儀報(bào)告：

　　1. 可自定義的的客戶方數(shù)據(jù)，測(cè)試對(duì)象，檢測(cè)授權(quán)，被測(cè)樣品，期準(zhǔn)備等

　　2.粒子掃描儀（詳細(xì)請(qǐng)?jiān)L問(wèn)：http://www.hjunkel.com/products-281.html）歡迎客戶來(lái)電咨詢：可測(cè)量樣品表面結(jié)果的比例，體積或測(cè)試樣本數(shù)量

　　3. ISO/ VDA尺寸類(lèi)型或用戶自定義

　　4. 樣品的清潔度代碼（CCC認(rèn)證）

　　5. 與相應(yīng)的清潔度要求進(jìn)行比較

　　6. 可抽入檢查員的電子簽名

　　粉塵掃描儀圖像庫(kù)：

　　·大的十個(gè)粒子的圖像庫(kù)

　　·位置標(biāo)簽在過(guò)濾器上，以簡(jiǎn)化顯微鏡的重新定位

　　·單獨(dú)分析和評(píng)顆粒子

　　數(shù)據(jù)分析：

　　·縱橫線的長(zhǎng)度寬度圖（見(jiàn)圖）

　　·長(zhǎng)度-面積直方圖

　　·趨勢(shì)和提取曲線

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：金相顯微鏡氣相色譜儀(GC) 色牢度儀、色牢度試驗(yàn)機(jī) 在線測(cè)厚儀接觸角測(cè)量?jī)x 其它泵臭氧分析儀（O3）研磨機(jī)、研磨儀、粉碎機(jī)、球磨機(jī) 露點(diǎn)儀、露點(diǎn)水分測(cè)定儀其它常用設(shè)備光度儀、霧度儀、光澤度儀硬度計(jì) 其它無(wú)損檢測(cè)儀器/設(shè)備沖擊試驗(yàn)機(jī) 扭轉(zhuǎn)試驗(yàn)機(jī)、彎曲試驗(yàn)機(jī) 杯突試驗(yàn)機(jī) 輪廓儀滲透壓儀/滲透壓計(jì) 比色計(jì) 粘度計(jì)

C3C3線路板PCB板表面清潔度測(cè)試儀

實(shí)驗(yàn)室專(zhuān)業(yè)離子清潔度測(cè)試儀，我們?yōu)槟≈赝扑]美國(guó)FORESITE 實(shí)驗(yàn)室 C3表面清潔度測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介：美國(guó)FORESITE 實(shí)驗(yàn)室 C3表面清潔度測(cè)試儀C3電路板表面清潔度測(cè)試儀。操作界面簡(jiǎn)捷、節(jié)省時(shí)間、使用方法易于掌握。C3的出現(xiàn)使電路板局部清潔度的判定更為方便、快捷，降低了使用者的時(shí)間成本，提高了檢測(cè)效率。是實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)產(chǎn)品潔凈度，工廠在線管控產(chǎn)品清潔度品質(zhì)的首選。它的出現(xiàn)代表電子產(chǎn)品對(duì)清潔度新的品質(zhì)要求，電子行業(yè)對(duì)潔凈度品質(zhì)要求的提升。

特性：*設(shè)備做工精細(xì)，外觀設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單大方*采用更易于操作的觸控界面*耗材放置抽屜，簡(jiǎn)單實(shí)用。*設(shè)備操作臺(tái)采用優(yōu)質(zhì)靜電材質(zhì)，產(chǎn)品置表層不會(huì)受到靜電損害及刮碰。*設(shè)計(jì)采用可歪曲折動(dòng)的測(cè)試手臂，可用手放置工作臺(tái)任意位置的產(chǎn)品測(cè)試。工作原理：通過(guò)對(duì)高純水加熱后打到被測(cè)試產(chǎn)品表面，萃取產(chǎn)品表面殘留的贓物，根據(jù)萃取溶液電導(dǎo)率的高低判斷電路板表面臟污程度機(jī)身長(zhǎng)度－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－－-長(zhǎng)：55.88cm 寬:71.12cm 高：41.28cm（含操作臂24.13cm）重：31.75kg操作臺(tái)尺寸\\\\長(zhǎng)度：43.18cm 寬度：59.06cm電源：供給電源：100-240V AC測(cè)試頭可測(cè)有次面積：0.1in平方（0.71平方厘米）萃取液：2包（2L）http://www.keentec.cn/productview.asp?id=284

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：選擇性涂覆機(jī) PCB板清洗劑硅片切削液藍(lán)寶石切削液 PCBA清洗機(jī) 選擇性波峰焊

C3美國(guó)Foresite C3表面清潔度測(cè)試儀

美國(guó)Foresite C3表面清潔度測(cè)試儀

C3電路板表面清潔度測(cè)試儀。操作界面簡(jiǎn)捷、節(jié)省時(shí)間、使用方法易于掌握。C3的出現(xiàn)使電路板局部清潔度的判定更為方便、快捷，降低了使用者的時(shí)間成本，提高了檢測(cè)效率。是實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)產(chǎn)品潔凈度，工廠在線管控產(chǎn)品清潔度品質(zhì)的首選。它的出現(xiàn)代表電子產(chǎn)品對(duì)清潔度新的品質(zhì)要求，電子行業(yè)對(duì)潔凈度品質(zhì)要求的提升。

特性：

l *設(shè)備做工精細(xì)，外觀設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單大方

l *采用更易于操作的觸控界面

l *耗材放置抽屜，簡(jiǎn)單實(shí)用。

l *設(shè)備操作臺(tái)采用優(yōu)質(zhì)靜電材質(zhì)，產(chǎn)品置表層不會(huì)受到靜電損害及刮碰。

l *設(shè)計(jì)采用可歪曲折動(dòng)的測(cè)試手臂，可用手放置工作臺(tái)任意位置的產(chǎn)品測(cè)試。

工作原理：

通過(guò)對(duì)高純水加熱后打到被測(cè)試產(chǎn)品表面，萃取產(chǎn)品表面殘留的贓物，根據(jù)萃取溶液電導(dǎo)率的高低判斷電路板表面臟污程度。

技術(shù)參數(shù)：

機(jī)器尺寸：55.88cm（L）* 71.12cm（W）*41.28cm（H）

重量：31.75kg

操作平臺(tái)尺寸：43.18cm（L）*59.06cm（W）

電源：100-240V AC

可測(cè)有次面積：0.1in平方（0.71平方厘米）

萃取液：2包（2L）

聯(lián)系人：陳先生

手機(jī)：13602588976

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：美國(guó)Foresite C3表面清潔度測(cè)試儀馬來(lái)西亞FLONIC清洗機(jī) 德科五金二次加工機(jī)床德科瑪雅選擇性波峰焊德科SMT設(shè)備美國(guó)RPS可焊性測(cè)試系統(tǒng) 美國(guó)ES水基型清洗液美國(guó)UDM半導(dǎo)體切削液美國(guó)RPS選擇性波峰焊美國(guó)TDC PCBA水清洗機(jī)

美國(guó)Foresite C3表面清潔度測(cè)試儀

美國(guó)Foresite C3/CI表面離子濃度判定儀是美國(guó)Foresite實(shí)驗(yàn)室研發(fā)的一款測(cè)試和判定PCB、PCBA等半成品電子產(chǎn)品和IC、BGA等元器件的單點(diǎn)或局部離子污染度，目前已成歐美企業(yè)判定產(chǎn)品離子濃度是否合格而公認(rèn)的一款測(cè)試儀器，經(jīng)Foresite實(shí)驗(yàn)室出具有的測(cè)試報(bào)告更具行業(yè)的權(quán)威性和公認(rèn)性。

C3電路板表面清潔度測(cè)試儀操作界面簡(jiǎn)捷、節(jié)省時(shí)間、使用方法易于掌握。C3的出現(xiàn)使電路板局部清潔度的判定更為方便、快捷，降低了使用者的時(shí)間成本，提高了檢測(cè)效率。是實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)產(chǎn)品潔凈度，工廠在線管控產(chǎn)品清潔度品質(zhì)的首選。它的出現(xiàn)代表電子產(chǎn)品對(duì)清潔度新的品質(zhì)要求，電子行業(yè)對(duì)潔凈度品質(zhì)要求的提升。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

l 主產(chǎn)針對(duì)單點(diǎn)的局部的離子污染度的測(cè)試和判定

l 應(yīng)用范圍：可測(cè)試PCB、PCBA等電子成品半成品產(chǎn)品，IC、BGA等元器件產(chǎn)品。

l 可任意選擇產(chǎn)品位置，測(cè)試局部清潔度判定體積小

l 測(cè)試位置面積為0.1in²

l 測(cè)量值精確至0.01

l 測(cè)試時(shí)間精確至1/4秒

l 電流測(cè)試單位uA

l 可輸出電子檔測(cè)試報(bào)告，易于測(cè)試數(shù)據(jù)整理

工作原理：

聯(lián)系人：陳先生

手機(jī)：13602588976

該公司產(chǎn)品分類(lèi)：儀器儀表 PCBA清洗機(jī)