TT300超聲波測厚儀概述TT300超聲波測厚儀是TT3系列超聲波測厚儀的基本型,比TT1系列測厚儀增加了諸多功能,如:增益設(shè)置、限界報(bào)警、數(shù)據(jù)傳輸?shù)。TT300A超聲波測厚儀是結(jié)合了TT300和TT320的各項(xiàng)功能和技術(shù)參數(shù),即具有TT300的全部功能,也可配備高溫探頭和小管徑探頭。對各種板材和加工零件作精確測量對設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測監(jiān)測使用過程中受腐蝕后的減薄程度廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空航天等各個(gè)領(lǐng)域TT300超聲波測厚儀功能特點(diǎn)設(shè)有耦合提示、低電壓提示關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)和自動(dòng)關(guān)機(jī)等功能(無操作三分鐘后)最小值捕捉:可選擇顯示當(dāng)前厚度值或最小厚度值數(shù)據(jù)傳輸:RS232接口,可與TA220S微型打印機(jī)或PC連接數(shù)據(jù)存儲:可存儲500個(gè)測量值和五個(gè)聲速值限界報(bào)警:可設(shè)置限界,對限界外的測量值能自動(dòng)蜂鳴報(bào)警聲速可調(diào):可利用已知厚度試塊測量聲速增益設(shè)置:具有高低增益設(shè)置功能公英制轉(zhuǎn)換:可選擇mm或inch顯示:背光功能,適合在光線不好的環(huán)境中進(jìn)行測量TT300超聲波測厚儀技術(shù)參數(shù)測量范圍:0.75—300mm(鋼,由探頭決定)顯示分辨率:0.1mm | 0.01mm可選聲速范圍:1000—9999m/s工件表面溫度:-10~+60顯示:四位大屏幕背光數(shù)字顯示,可調(diào)對比度測量精度:±(1%H+0.1)mm, H為實(shí)際厚度值管材測量下限:Ф20mmX3.0mm(5PФ10探頭,鋼材)操作時(shí)間:可連續(xù)操作100小時(shí)(2個(gè)AA型堿性電池,1.5V/個(gè),無背光時(shí))TT300超聲波測厚儀標(biāo)配TT300超聲波測厚儀主機(jī)5PФ10探頭AA型堿性電池2節(jié)主機(jī)保護(hù)套耦合劑隨機(jī)文件提箱

簡單介紹MPO/MP0 涂鍍層測厚儀:DUALSCOPE®MPOR 涂鍍層測厚儀,有名:D-MPOR型兩用涂層測厚儀,DUALSCOPE MP0R涂層測厚儀,Helmut-Fischer膜厚儀 MP0R,雙屏幕顯示,磁性和渦流兩用型德國FISCHER涂層測厚儀。大量程:0~2000μm。高精度,分辨率:0.00um;低功耗:60秒自動(dòng)關(guān)機(jī),測量自動(dòng)開機(jī)出值等功能。MPO/MP0 涂鍍層測厚儀的詳細(xì)介紹MPO/MP0 涂鍍層測厚儀MPO/MP0涂層測厚儀概述:MPO涂層測厚儀為德國生產(chǎn)涂層測厚儀,MPO涂層測厚儀集合了磁性測厚儀(P-MP0D)和渦流測厚儀(I-MP0D)兩種儀器的功能,MPO涂層測厚儀是D-MP0D,MPOR型儀器的改進(jìn)型產(chǎn)品。可用于測量鐵基及非鐵基體上涂層的厚度。如:1. 鋼鐵材料上的銅、鉻、鋅等電鍍層或油漆、涂料、搪瓷等涂層厚度。2. 鋁、銅、金等箔、帶材料及紙張、塑料膜的厚度。3. 銅、鋁、鎂、鋅等非鐵金屬材料上的涂層厚度。4. 鋁、鎂材料上陽極氧化膜的厚度。5. 各種鋼鐵及非鐵金屬材料上熱噴涂層的厚度。MPO涂層測厚儀符合國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T4956和GB/T4957,可用于生產(chǎn)檢驗(yàn)、驗(yàn)收檢驗(yàn)及質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)。MPO/MP0特點(diǎn):MPO涂層測厚儀采用雙功能內(nèi)置式探頭,無需更換探頭,可自動(dòng)識別鐵基或非鐵基體材料,并選擇相應(yīng)的測量方式進(jìn)行精確測量。符合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)的雙顯示屏結(jié)構(gòu),可以在任何測量位置讀取測量數(shù)據(jù),999個(gè)存儲值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,最大值,最小值等功能。采用手機(jī)菜單方式快速選擇功能。儀器可設(shè)定上下限,測量結(jié)果超出或符合上下限數(shù)值時(shí),儀器會發(fā)出相應(yīng)的聲音或閃爍燈提示。德國MPO涂層測厚儀通常不必校正便可進(jìn)行測量。60秒自動(dòng)關(guān)機(jī),測量自動(dòng)開機(jī)出值等功能。MPO/MP0參數(shù): 量 程:0~2000μm。分辨率:0.00um精 度:±1μm(0~50μm);±2%(50μm~1000μm);±3%(1000μm~2000μm)。重復(fù)精度: ±0.5μm(0~100μm); ±0.5%(>100μm)。最小測量曲率直徑:在精度范圍內(nèi),鐵基φ35mm,非鐵基φ50mm;(在允許誤差<10%時(shí),鐵基為φ10mm,非鐵基為φ2mm)。最小測量面積直徑:φ4mm(在允許誤差<10%時(shí),為φ2mm)。最小基體厚度:鐵基0.2mm(誤差<10%時(shí));非鐵基0.09mm(誤差<10%時(shí))。重 量:60g(不含電池)。外形尺寸:64mm×30m×85mm。電 源:兩節(jié)5號電池。MPO/MP0標(biāo)準(zhǔn)配置:主機(jī)一臺;鐵、鋁基體各一塊;標(biāo)準(zhǔn)片一套;手提儀器盒;掛鏈;兩節(jié)5號電池;操作手冊;出廠合格證書。

TT300手持式超聲波測厚儀(智能標(biāo)準(zhǔn)型)采用超聲波測量原理,適用于能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。此儀器可對各種板材和各種加工零件作精確測量,另一重要方面是可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測,監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度?蓮V泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。 TT300手持式超聲波測厚儀(智能標(biāo)準(zhǔn)型)基本原理: 超聲波測量厚度的原理與光波測量原理相似,探頭發(fā)射的超聲波脈沖到達(dá)被測物體并在物體中傳播,到達(dá)材料分界面時(shí)被反射回探頭,通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。 TT300手持式超聲波測厚儀(智能標(biāo)準(zhǔn)型)性能指標(biāo):測量范圍: 0.75mm~300.0mm 顯示分辨率:0.1/0.01mm(可選) 測量精度:±(1%H+0.1)mm H為被測物實(shí)際厚度 管材測量下限(鋼):Φ15mm×2.0mm 最小厚度值捕捉模式:可選擇顯示當(dāng)前厚度值或最小厚度值 數(shù)據(jù)輸出:RS232接口,可與TA220S微型打印機(jī)或PC連接 數(shù)據(jù)存儲:可存儲500個(gè)測量值和五個(gè)聲速值 報(bào)警功能:可設(shè)置限界,對限界外的測量值能自動(dòng)蜂鳴報(bào)警 使用環(huán)境溫度:不超過60℃ 電源:二節(jié)AA型1.5V堿性電池 工作時(shí)間:可達(dá)100小時(shí) 外形尺寸:152mm×74 mm×35 mm 重量:370g

一、儀器特點(diǎn):LW-2010型手持式(渦流)涂層測厚儀是聯(lián)永公司的高端產(chǎn)品。它采用抗干擾技術(shù)、測量精度高、數(shù)字顯示、功耗低、內(nèi)置探頭全量程測量、機(jī)型小巧、操作簡捷;且具有欠電指示、統(tǒng)計(jì)、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)功能,其性能已經(jīng)達(dá)到國際同類儀器的先進(jìn)水平。二、應(yīng)用范圍:本儀器采用渦流測厚法,可以方便無損地測量非鐵磁性基體上的油漆、塑料、橡膠等各種防腐涂層的厚度,或者是鋁基體的陽極氧化膜的厚度等。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械、汽車、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。三、技術(shù)參數(shù)1、測量范圍: 0~1200um2、測量誤差: <3%±1um3、最小示值: 1um4、顯示方式:4位液晶數(shù)字顯示5、主要功能:(1).測量:內(nèi)置探頭全量程測厚(2).統(tǒng)計(jì):設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值、最大值、最小值(3).校準(zhǔn):可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)(4).電量:具有欠壓顯示功能(5).蜂鳴提示:操作過程中有蜂鳴提示(6).關(guān)機(jī):具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方式6、電源:兩節(jié)1.5v電池7、功耗: 最大功耗110mw8、外形尺寸:115mm*45mm*25mm9、重量: 100g(含電池)10、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃相對濕度:不大于90%11、基體最小厚度:0.3mm12、基體最小平面的直徑:7mm13、最小曲率半徑:凸:1.5mm凹:6mm14、欠電壓指示:右上角顯示*臨界厚度值:工件基體厚度大于1mm時(shí),其涂層厚度的測量不受基體厚度影響。
