本公司精力打造高科技產(chǎn)品,力爭(zhēng)成為國(guó)內(nèi)科研儀器供應(yīng)商。同時(shí),我們售前,售中,售后全程為您服務(wù)。歡迎來(lái)電咨詢!
熒光鍍層測(cè)厚儀 參數(shù):
主要規(guī)格 規(guī)格描述 X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng) 空冷式微聚焦型X射線管,Be窗 標(biāo)準(zhǔn)靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等 功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-標(biāo)準(zhǔn) 75W(4-50kV,0-1.5mA)-任選 裝備有安全防射線光閘 二次X射線濾光片:3個(gè)位置程控交換,多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng) 最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器 多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選: -圓形,如4、6、8、12、20 mil等 -矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
測(cè)量斑點(diǎn)尺寸 在12.7mm聚焦距離時(shí),最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器) 在12.7mm聚焦距離時(shí),最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為:0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器) 樣品室 CMI900 CMI950 -樣品室結(jié)構(gòu) 開槽式樣品室 開閉式樣品室 -最大樣品臺(tái)尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm -XY軸程控移動(dòng)范圍 標(biāo)準(zhǔn):152.4 x 177.8mm 還有5種規(guī)格任選 300mm x 300mm -Z軸程控移動(dòng)高度 43.18mm XYZ程控時(shí),152.4mm XY軸手動(dòng)時(shí),269.2mm -XYZ三軸控制方式 多種控制方式任選:XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制 -樣品觀察系統(tǒng) 高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng),標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。 激光自動(dòng)對(duì)焦功能 可變焦距控制功能和固定焦距控制功能 計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置 IBM計(jì)算機(jī) 惠普或愛(ài)普生彩色噴墨打印機(jī) 分析應(yīng)用軟件 操作系統(tǒng):Windows2000中文平臺(tái) 分析軟件包:SmartLink FP軟件包 -測(cè)厚范圍 可測(cè)定厚度范圍:取決于您的具體應(yīng)用。 -基本分析功能 采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。 樣品種類:鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量) 可檢測(cè)元素范圍:Ti22 – U92 可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正 貴金屬檢測(cè),如Au karat評(píng)價(jià) 材料和合金元素分析, 材料鑒別和分類檢測(cè) 液體樣品分析,如鍍液中的金屬元素含量 多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較 元素光譜定性分析 -調(diào)整和校正功能 系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能,自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移 -測(cè)量自動(dòng)化功能 鼠標(biāo)激活測(cè)量模式:“Point and Shoot” 多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式:隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式 測(cè)量位置預(yù)覽功能 激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能 -樣品臺(tái)程控功能 設(shè)定測(cè)量點(diǎn) 連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量 測(cè)量位置預(yù)覽(圖表顯示) -統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖 數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖 數(shù)據(jù)庫(kù)存儲(chǔ)功能 任選軟件:統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書 -系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能 Z軸保護(hù)傳感器 樣品室門開閉傳感器 操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng):操作員、分析員、工程師
熒光鍍層測(cè)厚儀 產(chǎn)品說(shuō)明:
高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析:正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和50瓦微焦X射線管,大大提高了靈敏度 簡(jiǎn)單的元素區(qū)分:二次光束過(guò)濾器可以分離重疊元素 性能優(yōu)化,測(cè)量元素范圍廣: 可預(yù)設(shè)參數(shù) CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法 的穩(wěn)定性: 自動(dòng)熱補(bǔ)償測(cè)量?jī)x器溫度,糾正變化,提供穩(wěn)定的結(jié)果 簡(jiǎn)單快速的光譜校準(zhǔn),定期檢查儀器性能(如靈敏度),并提供必要的糾正 堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì) 可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作 堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì) 經(jīng)行業(yè)驗(yàn)證的技術(shù),在全球銷售量超過(guò)3000臺(tái)
Ø 通過(guò)自動(dòng)定位功能提高操作性 測(cè)量樣品時(shí),以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦,現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
Ø 微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高 通過(guò)縮小與樣品間的距離等,致使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測(cè)量的精度。
Ø 多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量 使用薄膜FP法軟件,即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。
Ø 廣域觀察系統(tǒng)(選配) 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測(cè)量位置。
Ø 對(duì)應(yīng)大型印刷線路板(選配) 可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量。
Ø 低價(jià)位 與以往機(jī)型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。
Ø 通過(guò)自動(dòng)定位功能提高操作性 測(cè)量樣品時(shí),以往需花費(fèi)約10秒的樣品對(duì)焦,現(xiàn)在3秒內(nèi)即可完成,大大提高樣品定位的操作性。
Ø 微區(qū)膜厚測(cè)量精度提高 通過(guò)縮小與樣品間的距離等,致使在微小準(zhǔn)直器(0.1、0.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測(cè)量的精度。
Ø 多達(dá)5層的多鍍層測(cè)量 使用薄膜FP法軟件,即使沒(méi)有厚度標(biāo)準(zhǔn)片也可進(jìn)行多達(dá)5層10元素的多鍍層測(cè)量。
Ø 廣域觀察系統(tǒng)(選配) 可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測(cè)量位置。
Ø 對(duì)應(yīng)大型印刷線路板(選配) 可對(duì)600×600mm的大型印刷線路板進(jìn)行測(cè)量。
Ø 低價(jià)位 與以往機(jī)型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價(jià)格。
Ux-720新一代國(guó)產(chǎn)專業(yè)鍍層厚度檢測(cè)儀,采用高分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探測(cè)器),測(cè)量精度和測(cè)量結(jié)果業(yè)界領(lǐng)先。
采用了FlexFP-Multi技術(shù),無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制,還是來(lái)料檢驗(yàn)和材料性能檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢,我們都會(huì)提供友好的體驗(yàn)和滿足檢測(cè)的需求。
Ux-720微移動(dòng)平臺(tái)和高清CCD搭配,旋鈕調(diào)節(jié)設(shè)計(jì)在殼體外部,觀察移動(dòng)位置簡(jiǎn)單方便。
X射線熒光技術(shù)測(cè)試鍍層厚度的應(yīng)用,提高了大批量生產(chǎn)電鍍產(chǎn)品的檢驗(yàn)條件,無(wú)損、快速和更準(zhǔn)確的特點(diǎn),對(duì)在電子和半導(dǎo)體工業(yè)中品質(zhì)的提升有了檢驗(yàn)的保障。
Ux-720鍍層測(cè)厚儀采用了華唯最新專利技術(shù)FlexFp -Multi,不在受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制,在無(wú)鍍層標(biāo)樣的情況下直接可以測(cè)試樣品的鍍層厚度,測(cè)試結(jié)果經(jīng)得起科學(xué)驗(yàn)證。
樣品移動(dòng)設(shè)計(jì)為樣品腔外部調(diào)節(jié),多點(diǎn)測(cè)試時(shí)移動(dòng)樣品方便快捷,有助于提升效率。
設(shè)計(jì)更科學(xué),軟硬件配合,機(jī)電聯(lián)動(dòng),輻射安全高于國(guó)標(biāo)GBZ115-2002要求。
軟件操作具有操作人員分級(jí)管理權(quán)限,一般操作員、主管使用不同的用戶名和密碼登陸,測(cè)試的記錄報(bào)告同時(shí)自動(dòng)添加測(cè)試人的登錄名稱。
X熒光鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品指標(biāo):
測(cè)厚技術(shù):X射線熒光測(cè)厚技術(shù)
測(cè)試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測(cè)量下限:0.003um
測(cè)量上限:30-50um(以材料元素判定)
測(cè)量層數(shù):10層
測(cè)量用時(shí):30-120秒
探測(cè)器類型:Si-PIN電制冷
探測(cè)器分辨率:145eV
高壓范圍:0-50Kv,50W
X光管參數(shù):0-50Kv,50W,側(cè)窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:專用3種自動(dòng)切換;
CCD觀察:260萬(wàn)像素
微移動(dòng)范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測(cè)試環(huán)境:非真空條件
數(shù)據(jù)通訊:USB2.0模式
準(zhǔn)直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區(qū):開放工作區(qū) 自定義
樣品腔:330×360×100mm
X熒光鍍層測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配件
樣品固定支架1支
窗口支撐薄膜:100張
保險(xiǎn)管:3支
計(jì)算機(jī)主機(jī):品牌+雙核
顯示屏:19吋液晶
打印機(jī):噴墨打印機(jī)
X熒光鍍層測(cè)厚儀
完全滿足客戶銅鍍錫、銅鍍鎳、銅鍍銀、銅鍍金、銅鍍鎳鍍金、鎳鍍金、鐵鍍鋅、鐵鍍鉻等常用金屬鍍層測(cè)厚分析,并具有開放性工作曲線功能,能根據(jù)具體需求添加適合現(xiàn)場(chǎng)使用的鍍層測(cè)試工作曲線,能夠滿足所有金屬鍍層測(cè)厚分析。
Ux系列儀器完全符合國(guó)際電工委員會(huì)IEC62321標(biāo)準(zhǔn)及中國(guó)環(huán)保標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的技術(shù)要求和技術(shù)規(guī)范。
可以實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)一鍵操作功能,準(zhǔn)直器自動(dòng)切換,濾光片自動(dòng)切換,開蓋隨意自動(dòng)停,樣品測(cè)試照片自動(dòng)拍照、自動(dòng)保存,測(cè)試報(bào)告自動(dòng)彈出,供應(yīng)商信息自動(dòng)篩選和保存
Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn),專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動(dòng)軟件操作,可多點(diǎn)測(cè)試,由軟件控制儀器的測(cè)試點(diǎn),以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。
性能特點(diǎn)
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)高分辨率探頭使分析結(jié)果更加良好的射線屏蔽作用測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào):Thick 800A元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。 同時(shí)可以分析30種以上元素,五層鍍層。分析含量一般為ppm到99.9% 。鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。多變量非線性回收程序度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。 外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm 樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm重量:90kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。雙激光定位裝置。鉛玻璃屏蔽罩。 Si-Pin探測(cè)器。信號(hào)檢測(cè)電子電路。高低壓電源。X光管。高度傳感器保護(hù)傳感器計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。
產(chǎn)品名稱:X熒光鍍層測(cè)厚儀波譜校正片
產(chǎn)品型號(hào):X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900,CMI920波譜校正片,測(cè)厚儀校正片,膜厚儀校正片
X-熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900 / 920金屬鍍層厚度的準(zhǔn)確測(cè)量
CMI 900 / 920 系列X射線熒光測(cè)厚儀是一種功能強(qiáng)大的材料涂/鍍層測(cè)量?jī)x器,可應(yīng)用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測(cè)等領(lǐng)域,為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準(zhǔn)確、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應(yīng)用軟件包,實(shí)現(xiàn)了對(duì)CMI900/920主機(jī)的全面自動(dòng)化控制。
技術(shù)參數(shù):
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測(cè)量?jī)x,在技術(shù)上一直以來(lái)都領(lǐng)先測(cè)厚行業(yè)。
A CMI 900 能夠測(cè)量包含原子序號(hào)22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測(cè)量合金材料的成份百分含量可同時(shí)測(cè)定多達(dá)5層、15 種元素。
B :精準(zhǔn)度領(lǐng)先行業(yè) :數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)報(bào)告功能允許用戶自定義多媒體分析報(bào)告格式,以滿足您特定的分析報(bào)告格式要求 ;如在分析報(bào)告中插入數(shù)據(jù)圖表、測(cè)定位置的圖象、CAD文件等。
D :統(tǒng)計(jì)功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、大值、小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、相對(duì)偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測(cè)厚儀能夠測(cè)量多種幾何形狀各種尺寸的樣品;
E :可測(cè)量任一測(cè)量點(diǎn),可達(dá)0.025 x 0.051毫米樣品臺(tái)選擇:CMI900系列采用開槽式樣品室,以方便對(duì)大面積線路板樣品的測(cè)量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為: 一:手動(dòng)樣品臺(tái)1 標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 2 擴(kuò)展型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。 3 可調(diào)高度型標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制、Z軸自動(dòng)控制。
二:自動(dòng)樣品臺(tái)
1 程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。 2 超寬程控樣品臺(tái):XYZ軸自動(dòng)控制。
CMI920系列采用開閉式樣品室,以方便測(cè)定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣,CMI950可提供四種規(guī)格的樣品臺(tái)供用戶選用,分別為:1 全程控樣品臺(tái):XYZ 三軸程序控制樣品臺(tái),可接納的樣品高度為150mm,XY 軸程控移動(dòng)范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺(tái)可實(shí)現(xiàn)測(cè)定點(diǎn)自動(dòng)編程控制。 2 Z軸程控樣品臺(tái):XY軸手動(dòng)控制,Z軸自動(dòng)控制,可接納的樣品高度為270mm。
3 全手動(dòng)樣品臺(tái):XYZ三軸手動(dòng)控制,可接納的樣品高度為356mm。 可擴(kuò)展式樣品臺(tái)用于接納超大尺寸樣品。