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CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。 高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析：正比計數(shù)探測器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度 簡單的元素區(qū)分：二次光束過濾器可以分離重疊元素 性能優(yōu)化，測量元素范圍廣： 可預設參數(shù) CMI900 提供800多種預設應用參數(shù)/方法 杰出的長期穩(wěn)定性： 自動熱補償測量儀器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結果 簡單快速的光譜校準，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正 堅固耐用的設計 可以在實驗室或生產(chǎn)線上操作 堅固的工業(yè)設計 經(jīng)行業(yè)驗證的技術，在全球銷售量超過3000臺
利用X射線熒光（XRF）進行鍍層厚度測量和材料分析，提高過程和質(zhì)量控制。
X-Strata鍍層測厚儀是結構緊湊、堅固耐用、用于質(zhì)量控制的可靠的臺式X射線熒光分析設備，提供簡單、快速、無損的鍍層厚度測量和材料分析。
它在工業(yè)領域如電子行業(yè)、五金電鍍行業(yè)、金屬合金行業(yè)及貴金屬分析行業(yè)表現(xiàn)出卓越的分析能力，可進行多鍍層厚度的測量。
鍍層測厚儀X-Strata系列提供：
無損分析：無需樣品制備
經(jīng)行業(yè)認證的技術和可靠性
操作簡單，只需要簡單的培訓
分析只需三步驟
杰出的分析準確性和精確性
在鍍層測厚領域擁有超過20年的豐富經(jīng)驗
鍍層測厚儀X-Strata系列使用功能強大、操作簡單的X射線熒光光譜儀進行鍍層厚度測量，保證質(zhì)量的同時降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文視窗系統(tǒng)的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現(xiàn)了對CMI900/920主機的全面自動化控制，
技術參數(shù)：
CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都領先于測厚行業(yè)
A CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層
（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區(qū)別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定最多5層、15 種元素。
B ：精確度領先于世界C ：數(shù)據(jù)統(tǒng)計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求 ；
如在分析報告中插入數(shù)據(jù)圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
D ：統(tǒng)計功能提供數(shù)據(jù)平均值、誤差分析、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數(shù)據(jù)分析模式。CMI900/920系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
E ：可測量任一測量點，最小可達0.025 x 0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為： 一：手動樣品臺1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 3 可調(diào)高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1 程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 2 超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI920系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規(guī)格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI920可提供四種規(guī)格的樣品臺供用戶選用，分別為：1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品最大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為 300mm x 300mm。 此樣品臺可實現(xiàn)測定點自動編程控制。 2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品最大高度為270mm。
3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品最大高度為356mm。 可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。
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