按鍵開關壽命測試儀，用于測試各種按鍵、開關以及電腦鍵盤、觸控面板、薄膜開關等產(chǎn)品的使用壽命，儀器通過電腦進行程控測試，可以對5個按鍵進行測試和智能分析，在線監(jiān)控并實時檢測按鍵開關短路、斷線、接觸不良、閉合不良、彈開不良的各種不良狀況、自動計算合格率、閉合率、彈開率、按壓次數(shù)、接通次數(shù)、斷開次數(shù)等等各種參數(shù)，儀器可以對任何一個按鍵進行單獨設定，也可以同時對5個以內(nèi)的被測按鍵進行各種數(shù)據(jù)統(tǒng)計和分析，自動保存測試結(jié)果，自動生成測試曲線圖譜。是目前功能最多、智能化程度的按鍵壽命測試儀器。
產(chǎn)品型號：HYL-2016A
按鍵方式：氣動。
按鍵壓力：0.5N—8N，可以任意調(diào)節(jié)。
按鍵頻率：可以設定。
按鍵行程：0—30mm。
測試工位：5。
按鍵次數(shù)：1—9999999次可設定。
按鍵線路：自動識別。
線路監(jiān)控：按鍵線路電阻阻值實時監(jiān)控。
測試鍵數(shù)：5個。
按鍵次數(shù)：1—9999999次任意設定。
按鍵方式：可以設定各種按鍵的方式、按鍵頻率、下壓延時、彈開延時、閉合時間、斷開時間、間斷性測試（間斷性測試方式可以避免因過度疲勞老化的原因造成的測試結(jié)果不）、自編程測試等等。
數(shù)據(jù)設定：可以設定任何一個按鍵的測試次數(shù)（1-9999999次）。
自動計數(shù)：自動記錄按鍵的動作次數(shù)、閉合次數(shù)、斷開次數(shù)、接觸不良次數(shù)等等，自動統(tǒng)計所有按鍵的相關數(shù)據(jù)，自動對批量按鍵的測試數(shù)據(jù)進行分類保存。
智能分析：自動對測試過程中所記錄的所有數(shù)據(jù)進行分析，自動計算被測按鍵的閉合率和閉合后的彈開率，自動分析多個按鍵同時檢測時的測試數(shù)據(jù)，批量數(shù)據(jù)處理，實時動態(tài)，動態(tài)報告當前測試結(jié)果。
電阻監(jiān)控：實時監(jiān)控連接按鍵的線路電阻阻值。
批量處理：壽命測試一般都屬于抽檢測測試，采用隨機取樣、批量處理的檢測方式和批量數(shù)據(jù)分析可以得到更和更具參考價值的測試結(jié)果，使測試數(shù)據(jù)更具代表性！
多種提示：可以設定各種信息提示方式及系統(tǒng)配置：
1. 以按鍵次數(shù)為標準：當?shù)竭_設定值時，自動停止測試。
2. 以出錯方式為標準：當按鍵閉合不良或彈開不良時，自動停止。
3. 行程可調(diào)：可以調(diào)節(jié)按鍵動作行程和按鍵力度。
4. 角度可調(diào)：可以調(diào)節(jié)按鍵方向和角度。
5. 測試設備：全鋼結(jié)構(gòu)測試架，堅固。
6. 控制系統(tǒng)：計算機（全套測試程序、軟件系統(tǒng)）。
顯示系統(tǒng)：標準電腦彩色顯示器。