詳細(xì)說明 |
★的圖象分辨力,更高的性和堅(jiān)固性 ★平場物鏡作為標(biāo)準(zhǔn)配置,能夠提供同類顯微鏡的圖象平場性 ★CX21顯微鏡采用與奧林巴斯顯微鏡相同的UIS2光學(xué)系統(tǒng) ★優(yōu)化對(duì)比度的阿貝聚光鏡 ★使用方便、經(jīng)久耐用的無支架載物臺(tái) ★零件安全性-避免學(xué)生損壞 ★極為平滑的四孔旋轉(zhuǎn)式物鏡轉(zhuǎn)盤 ★機(jī)械載物臺(tái)聚焦限位,杜絕發(fā)生以外 ★防霉處理,提供零件耐用性 |
交流掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ac-SECM)
間歇接觸掃描電化學(xué)顯微鏡系統(tǒng)(ic-SECM)
微區(qū)電化學(xué)阻抗測試系統(tǒng)(LEIS)
掃描振動(dòng)點(diǎn)擊測試系統(tǒng)(SVET)
電解液微滴掃描系統(tǒng)(SDS)
交流電解液微滴掃描系統(tǒng)(ac-SDS)
掃描開爾文探針測試系統(tǒng)(SKP)
非觸式微區(qū)形貌測試系統(tǒng)(OSP)
出色的性能
快速精準(zhǔn)的閉環(huán)定位系統(tǒng)為電化學(xué)掃描探針納米級(jí)研究的需求而特別設(shè)計(jì)。結(jié)合Uniscan 獨(dú)特的混合型32-bit DAC技術(shù),用戶可以選擇合適實(shí)驗(yàn)研究的最佳配置
先進(jìn)和靈活的工作平臺(tái)
系統(tǒng)可提供9種探針技術(shù),使得M470成為全球最靈活的電化學(xué)掃描灘鎮(zhèn)工作平臺(tái)。
全面的附件
7種模塊可選,3種不同電解池,各式探針,長距顯微鏡以及后處理數(shù)據(jù)分析軟件。
M470新產(chǎn)品特征
SECM自動(dòng)處理曲線
SECM用戶自定義處理曲線步長變化
高分辨率讀取
手動(dòng)或自動(dòng)調(diào)節(jié)相位
M470同時(shí)具備如下特點(diǎn):
傾斜校正
X或Y曲線相減(5階多項(xiàng)式)
2D或3D快速傅里葉變化
實(shí)驗(yàn),探針移動(dòng)和區(qū)域繪圖的自動(dòng)排序
圖形實(shí)驗(yàn)測序引擎(GESE)
支持多區(qū)域掃描
所有實(shí)驗(yàn)多個(gè)數(shù)據(jù)視圖
峰值分析
是由
M470技術(shù)參數(shù)
工作站(所有技術(shù))
掃描范圍(x,y,z) 大于100nm
掃描驅(qū)動(dòng)分辨率 最高0.1nm
閉環(huán)定位 線性零滯后編碼器,直接實(shí)時(shí)讀出x,z和y位移
軸分辨率(x,y,z) 20nm
最大掃描速度 12.5mm/s
測量分辨率 32-bit解碼器@高達(dá)40MHz
壓電(ic-和ac-掃描探針技術(shù))
振動(dòng)范圍 20nm~ 2μm峰與峰之間1nm增量
最小振動(dòng)分辨率 0.12nm(16-bit DAC,4μm)
壓電晶體伸展 100μm
定位分辨率 0.09nm(20-bit DAC ,100μm)
機(jī)電
掃描前端 500×420×675mm(H×W×D)
掃描控制單元 275×450×400mm(H×W×D)
功率 250W
顯微維氏硬度計(jì)HVS-1000詳細(xì)參數(shù):
顯微維氏硬度計(jì)HVS-1000用途:
可對(duì)經(jīng)熱處理、碳化、淬火硬化層,剛、有色金屬和微小及薄形等零件進(jìn)行硬度處理。
顯微維氏硬度計(jì)HVS-1000的主要技術(shù)參數(shù):
1.試驗(yàn)力:0.098、0.245、0.49 、0.98 、1.96 、2.94 、4.9 、9.8(N) 相當(dāng)于:10、25、50、100、200、300、500、1000(千克力) 2.轉(zhuǎn)換標(biāo)尺:洛氏、表面洛氏、布氏。 3.最小檢測單位:0。031μm; 4.總放大倍率:100X(觀察用)、400X(測量用; 5.加荷控制:自動(dòng)加荷、保荷、卸荷; 6.試樣最大高度:65mm; 7.?dāng)?shù)據(jù)輸出方式:內(nèi)置打印機(jī)各RS-232接口; 8.外形尺寸:405X290X480(mm) 9.重量:25kg。 標(biāo)準(zhǔn)附件: 物鏡40X、10X;維氏壓頭、測微目鏡、標(biāo)準(zhǔn)顯微塊/2塊、薄形試臺(tái)、圓柱體試臺(tái)、平口試臺(tái)、水平儀、電源線、輔助工具 |
光學(xué)儀器儀表物理探究實(shí)驗(yàn)儀器棱鏡透鏡電子測量儀器電學(xué)儀器電工儀器儀表
天文顯微兩用手提箱(天文啟蒙教育器材)
型號(hào):天文F350x50口徑:50mm焦距:350mm光學(xué)系統(tǒng):折射式目鏡: 二個(gè)目鏡H20mm H4mm
顯微鏡300x 600x 1200x三個(gè)物鏡腳架:伸縮式鋁合金三腳架光源: 兩節(jié)5號(hào)電池
包裝:手提箱為了配合使用,還配有鑷子、樣品瓶、吸管、
載波片、植物標(biāo)本等工具。
天文顯微兩用手提箱480元/箱
歡迎登錄:科普器材網(wǎng):
HV-1000型顯微硬度計(jì)主要特點(diǎn)特別適合于測定金屬零件表面滲碳滲氮層及薄小零件的顯微硬度檢測,選配努氏壓頭可做努氏硬度試驗(yàn)。HV-1000型顯微硬度計(jì)主要技術(shù)規(guī)格測量范圍:5-3000HV試驗(yàn)力:0.09807、0.2452、0.4904、0.9807、1.961、2.942、4.904、9.807牛頓(10、25、50、100、200、300、500、1000克力)測量系統(tǒng)放大倍數(shù):500倍、125倍測量精度:0.125微米試件允許最大高度:75毫米壓頭中心至機(jī)壁距離:100毫米電源:交流220伏,50Hz外形尺寸:340 x 160 x 375毫米重量:約40千克
HV-1000型顯微硬度計(jì)主要附件座標(biāo)試臺(tái):1個(gè) 平口鉗:1個(gè)金剛石角錐壓頭:1只 大V形塊:1個(gè)標(biāo)準(zhǔn)顯微硬度塊:2塊 小V形塊:1個(gè)打印機(jī):1個(gè) 薄板試臺(tái):1個(gè)細(xì)軸試臺(tái):1個(gè) 電子計(jì)算器:1個(gè)