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JC03-LT-2單晶少子壽命測試儀，硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命檢測儀，半導體材料少數(shù)載流子壽命測量儀

單晶少子壽命測試儀硅單晶非平衡少數(shù)載流子壽命檢測儀半導體材料少數(shù)載流子壽命測量儀硅單晶多晶磷檢棒壽命測量儀

型號JC03-LT-2

JC03-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國A.S.T.M標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導體的常規(guī)測試項目之。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。

本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導衰退法的原理設計，由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。

技　術　指　標：

測試單晶電阻率范圍>2Ω.cm

可測單晶少子壽命范圍5μS～7000μS

配備光源類型波長：1.09μm；余輝<1μS；

閃光頻率為：20～30次／秒；

高頻振蕩源用石英諧振器，振蕩頻率：30MHz

前置放大器放大倍數(shù)約25，頻寬2Hz-1MHz

儀器測量重復誤差<±20％

測量方式采用對標準曲線讀數(shù)方式

儀器消耗功率<25W

儀器工作條件溫度：10-35℃、濕度<80％、使用電源：AC220V，50Hz

可測單晶尺寸斷面豎測：φ25mm—150mm；L2mm—500mm；

縱向臥測：φ25mm—150mm；L50mm—800mm；

配用示波器頻寬0—20MHz；

電壓靈敏：10mV／cm；

該公司產(chǎn)品分類：教學儀器照度光譜系列邏輯棒/筆測氡儀氧氣檢測儀氫氣檢測報警儀氣體檢測報警儀熏蒸氣體檢測儀空氣質(zhì)量檢測儀垃圾場氣體檢測酒精測試儀有毒氣體檢測儀甲烷檢測儀可燃氣體檢測儀/探測儀復合氣體檢測儀苯檢測儀揮發(fā)性有機氣體臭氧檢測分析儀甲醛檢測/分析氧氣檢測報警儀

DT319-LT-2單晶少子壽命測試儀少子壽命測試儀

DT319-LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導衰退法的原理設計，由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。技　術　指　標：測試單晶電阻率范圍 >2Ω.cm 可測單晶少子壽命范圍 5μS～7000μS 配備光源類型波長：1.09μm；余輝<1 μS；閃光頻率為：20～30次／秒；閃光頻率為：20～30次／秒；高頻振蕩源用石英諧振器，振蕩頻率：30MHz 前置放大器放大倍數(shù)約25，頻寬2 Hz-1 MHz 儀器測量重復誤差 <±20％測量方式采用對標準曲線讀數(shù)方式儀器消耗功率 <25W 儀器工作條件溫度： 10-35℃、濕度 < 80％、使用電源：AC 220V，50Hz 可測單晶尺寸斷面豎測：φ25mm—150mm； L 2mm—500mm；縱向臥測：φ25mm—150mm； L 50mm—800mm；配用示波器頻寬0—20MHz；電壓靈敏：10mV／cm；

該公司產(chǎn)品分類：測氡儀氧氣檢測儀氫氣氣體檢測報警儀氣體檢測報警儀熏蒸氣體檢測儀空氣質(zhì)量檢測儀垃圾場有毒有害氣體測試儀酒精測試儀有毒氣體檢測儀甲烷檢測儀可燃氣體檢測儀/探測儀復合氣體檢測儀顯微鏡苯檢測儀揮發(fā)性有機氣體測試儀臭氧檢測分析儀甲醛檢測分析儀二氧化硫檢測儀檢測儀氨氣檢測儀

HS-WMR-2S-3光伏單多晶少子壽命測試儀少數(shù)載流子檢測

產(chǎn)品介紹:HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋簟⒍嗑Ч鑹K及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測量儀器。

產(chǎn)品特點

■無接觸和無損傷測量

■自動測量，具有傳送系統(tǒng)，可進行連續(xù)測量

■快速測量，測試掃描速度達到2000mm/min

■測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量

■主要應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。

■性價比高，極大程度地降低了企業(yè)的測試成本。

推薦工作條件

■溫度：18-26℃■濕度：10%~80%■大氣壓：750±30毫米汞柱■少子壽命測試范圍:0.1μs-20ms

■測試掃描速度:2000mm/min

■測試尺寸:215mm*215mm*500mm

■ 電阻率范圍：>0.1Ω.cm

■ 激光波長：904,測試功率范圍：50-500mw

■ 硅棒硅塊掃描間距：≥1mm

■儀器測試精度：±3.5％，信號處理偏差≤2％

■工作頻率：10GHz±0.5

■微波測試單元功率：0.01W±10%

■電源：～220V 50Hz 功耗＜200W

■主機尺寸：365mm * 645mm *565mm

■主機重量：30KG

典型客戶

河北，江西，江蘇，浙江，新疆等地拉晶鑄錠客戶。

該公司產(chǎn)品分類：光伏檢測

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DT319-LT-2單晶少子壽命測試儀 少子壽命測試儀

HS-WMR-2S-3光伏單多晶少子壽命測試儀少數(shù)載流子檢測

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DT319-LT-2單晶少子壽命測試儀少子壽命測試儀