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    其他產(chǎn)品及廠家

    Pcie3.0x4 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie3.0x4 眼圖測試 物理層致性測試下面是個 ddr3 設(shè)計的實際案例。按照傳統(tǒng)的方式進(jìn)行設(shè)計時,工程師會按照主芯片給的設(shè)計規(guī)范進(jìn)行設(shè)計。結(jié)合項目工程的需要,其 ddr3 的采用的是 t 型的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu), ecc 放置在如下圖 5 圓圈中所示位置。在生產(chǎn)完成后的調(diào)試過程中,發(fā)現(xiàn) ddr3 的信號出現(xiàn)非單調(diào)性。
    更新時間:2025-05-15
    Pcie3.0x8 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie3.0x8 眼圖測試 物理層致性測試deviceid和vendor id寄存器這兩個寄存器的值由pcisig分配,只讀。其中vendor id代表pci設(shè)備的生產(chǎn)廠商,而device id代表這個廠商所生產(chǎn)的具體設(shè)備。如xilinx公司的k7,其vendor id為0x10ee,而device id為0x7028。
    更新時間:2025-05-15
    Pcie3.0x16 眼圖測試 物理層一致性測試
    pcie3.0x16 眼圖測試 物理層致性測試獲得的信號波形沒有出現(xiàn)非單調(diào)的情況。按照以上設(shè)計改板后的測試結(jié)果與仿真 致。 如果不進(jìn)行仿真,那么只能在產(chǎn)品設(shè)計完成之后進(jìn)行測試才能發(fā)現(xiàn)問題,如果要改善, 只能再改板調(diào)整,還可能出現(xiàn)改板很多次的情況,這樣就會延遲產(chǎn)品上市時間并增加物料成本。
    更新時間:2025-05-15
    EMMC 上電時序測試 電源紋波測試
    emmc 上電時序測試 電源紋波測試emmc 芯片下方在敷銅時,焊盤部分要增加敷銅禁布框,避免銅皮分布不均影響散熱,導(dǎo)致貼片虛焊。
    更新時間:2025-05-15
    EMMC 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
    emmc 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試電源紋波測試過大的問題通常和使用的探頭以及端的連接方式有關(guān)。先檢查了用戶探頭的連接方式,發(fā)現(xiàn)其使用的是如下面左圖所示的長的鱷魚夾地線,而且接地點夾在了單板的固定螺釘上,整個地環(huán)路比較大。由于大的地環(huán)路會引入更多的開關(guān)電源造成的空間電磁輻射噪聲以及地環(huán)路噪聲,于是更換成如下面右圖所示的短的接地彈簧針。
    更新時間:2025-05-15
    EMMC 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
    emmc 控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試
    更新時間:2025-05-15
    EMMC 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    emmc 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試這是個典型的電源紋波測試的問題。我們通過使用短的地線連接、換用低衰減比的探頭以及帶寬限制功能使得紋波噪聲的測試結(jié)果大大改善。
    更新時間:2025-05-15
    EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
    emmc4 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試實際上就是把電纜的頭接在示波器上,示波器設(shè)置為50歐姆輸入阻抗;電纜的另頭剝開,屏蔽層焊接在被測電路地上,中心導(dǎo)體通過個隔直電容連接被測的電源信號。這種方法的優(yōu)點是低成本,低衰減比,缺點是致性不好,隔直電容參數(shù)及帶寬不好控制。
    更新時間:2025-05-15
    Emmc5 上電時序測試 電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試
    相關(guān)產(chǎn)品:emmc5 , 上電時序測試 , 電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試通俗的來說,emmc=nand閃存+閃存控制芯片+標(biāo)準(zhǔn)接口封裝。
    更新時間:2025-05-15
    EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    emmc4 , 復(fù)位測試 , clk測試 , dqs測試emmc則在其內(nèi)部集成了 flash controller,包括了協(xié)議、擦寫均衡、壞塊管理、ecc校驗、電源管理、時鐘管理、數(shù)據(jù)存取等功能。
    更新時間:2025-05-15
    EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    emmc5 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試包括card interface(cmd,data,clk)、memory core interface、總線接口控制(card interface controller)、電源控制、寄存器組。
    更新時間:2025-05-15
    EMMC5 復(fù)位測試 CLK測試
    emmc5 復(fù)位測試 clk測試mmc通過發(fā)cmd的方式來實現(xiàn)卡的初始化和數(shù)據(jù)訪問。device identification mode包括3個階段idle state、ready state、identification state。
    更新時間:2025-05-15
    EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC5 復(fù)位測試
    emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc5 復(fù)位測試identification state,發(fā)送完 cid 后,emmc device就會進(jìn)入該階段。
    更新時間:2025-05-15
    電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
    相關(guān)產(chǎn)品:電源紋波測試 , 時鐘測試 , 數(shù)據(jù)信號測試 , emmc5 , 上電時序測試
    更新時間:2025-05-15
    CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
    相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試data strobe 時鐘信號由 emmc 發(fā)送給 host,頻率與 clk 信號相同,用于 host 端進(jìn)行數(shù)據(jù)接收的同步。data strobe 信號只能在 hs400 模式下配置啟用,啟用后可以提高數(shù)據(jù)傳輸?shù)姆(wěn)定性,省去總線 tuning 過程。
    更新時間:2025-05-15
    CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試 電源紋波測試
    相關(guān)產(chǎn)品:clk測試 , dqs測試 , emmc4 , 上電時序測試 , 電源紋波測試
    更新時間:2025-05-15
    電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    電源紋波測試 時鐘測試 數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試
    更新時間:2025-05-15
    控制信號測試 控制信號過沖測試 控制信號高低電平測試 EMMC 復(fù)位測試
    數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
    更新時間:2025-05-15
    數(shù)據(jù)信號測試 Emmc5 上電時序測試
    數(shù)據(jù)信號測試 emmc5 上電時序測試start bit 與 command 樣,固定為 "0",在沒有數(shù)據(jù)傳輸?shù)那闆r下,cmd 信號保持高電平,當(dāng) emmcdevice 將 start bit 發(fā)送到總線上時,host 可以很方便檢測到該信號,并開始接收 response。
    更新時間:2025-05-15
    CLK測試 DQS測試  EMMC4 上電時序測試,眼圖測試
    clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試,眼圖測試crc 為 data 的 16 bit crc 校驗值,不包含 start bit。各個 data line 上的 crc 為對應(yīng) data line 的 data 的 16 bit crc 校驗值。
    更新時間:2025-05-15
    數(shù)據(jù)信號測試 EMMC4 復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試
    數(shù)據(jù)信號測試 emmc4 復(fù)位測試 clk測試 dqs測試在 ddr 模式下,data line 在時鐘的上升沿和下降沿都會傳輸數(shù)據(jù),其中上升沿傳輸數(shù)據(jù)的奇數(shù)字節(jié) (byte 1,3,5...),下降沿則傳輸數(shù)據(jù)的偶數(shù)字節(jié)(byte 2,4,6 ...)。
    更新時間:2025-05-15
    復(fù)位測試 CLK測試 DQS測試 EMMC4 上電時序測試
    復(fù)位測試 clk測試 dqs測試 emmc4 上電時序測試當(dāng) emmc device 處于 sdr 模式時,host 可以發(fā)送 cmd19 命令,觸發(fā)總線測試過程(bus testing procedure),測試總線硬件上的連通性。
    更新時間:2025-05-15
    泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具
    泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具 泰克tektronix 以太網(wǎng)一致性測試夾具,硬件測試,ddr測試,時序測試,紋波測試,抖動測試
    更新時間:2025-05-15
    MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題
    mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題mipi是2003年由arm,nokia,st,it等公司成立的個聯(lián)盟,旨在把手機(jī)內(nèi)部的接口如存儲接口,顯示接口,射頻/基帶接口等標(biāo)準(zhǔn)化,減少兼容性問題并簡化設(shè)計。
    更新時間:2025-05-15
    MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試
    mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試基于示波器的當(dāng)抖動測量工具在條通道上只提供個眼圖。在通用測量中,這些工具只有6-8個測量項目。dpojet全面支持所有通道,包括同時測量每條通道的眼圖。
    更新時間:2025-05-15
    MIPI接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 MIPI傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 MIPI驅(qū)動問題 重起問題
    mipi接口屏閃屏的分析及解決方法 眼圖測試 mipi傳輸過程中的信號質(zhì)量問題 mipi驅(qū)動問題 重起問題
    更新時間:2025-05-15
    硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題 MIPI接口的DSI的驅(qū)動問題
    硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題 mipi接口的dsi的驅(qū)動問題
    更新時間:2025-05-15
    MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決 MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動
    mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決 mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動
    更新時間:2025-05-15
    MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗
    mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗
    更新時間:2025-05-15
    MIPI調(diào)試經(jīng)驗 MIPI硬件開發(fā) MIPI驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試MIPI屏經(jīng)驗 MIPI 接口的sensor問題
    mipi調(diào)試經(jīng)驗 mipi硬件開發(fā) mipi驅(qū)動 硬件工程師調(diào)試mipi屏經(jīng)驗 mipi 接口的sensor問題
    更新時間:2025-05-15
    MIPI攝像頭 MIPI眼圖測試 MIPI LCD接口 MIPI主板 MIPI故障分析與解決
    mipi攝像頭 mipi眼圖測試 mipi lcd接口 mipi主板 mipi故障分析與解決從軟件層面,再回顧下數(shù)據(jù)格式,加深在數(shù)據(jù)線上有3 種可能的操作模式:escape mode, high-speed (burst) mode and control mode,下面是從停止?fàn)顟B(tài)進(jìn)入相應(yīng)模式需要的時序:
    更新時間:2025-05-15
    JUKI飛達(dá)校正儀貼片機(jī)飛達(dá)校正儀 氣動飛達(dá)校正儀/SMT飛達(dá)顯示器
    商品名稱:juki feeder校正儀商品品牌:鑫鴻基/xhj商品產(chǎn)地:深圳商品尺寸(mm):l500*w350*h500商品重量:約35kg適用機(jī)型:juki系列機(jī)型
    更新時間:2025-05-15
    土工布透水性測定儀 土工布透水性
    運(yùn)用jigaotest系統(tǒng)設(shè)計研發(fā)的一款用來檢測土工合成材料及相關(guān)復(fù)合材料在垂直方向水流透過率的測試設(shè)備!⊥凉げ纪杆詼y定儀 土工布透水性
    更新時間:2025-05-15
    大體積混凝土溫度測試儀
    大體積混凝土溫度測試儀,該儀器可實時監(jiān)測大體積混凝土凝固過程中因釋放水化熱引起的混凝土內(nèi)部的溫升,從而可及時做出應(yīng)對策略,避免混凝土因溫升造成的開裂等嚴(yán)重后果。此儀器系統(tǒng)主要適用于鐵路、水利、電力、市政、建筑等領(lǐng)域;可對混凝土內(nèi)部溫度進(jìn)行實時監(jiān)測,并可通過無線網(wǎng)絡(luò)與計算機(jī)進(jìn)行通信,實現(xiàn)了真正意義上的遠(yuǎn)程監(jiān)控。
    更新時間:2025-05-15
    出租Tektronix USB2.0測試夾具
    出租tektronix usb2.0測試夾具
    更新時間:2025-05-15
    合金鋼化驗儀器,合金鋼成分分析儀
    gq-hw2a電弧紅外碳硫分析儀: 主要技術(shù)指標(biāo):*測量范圍:碳(c)0.001%~10.000%(可擴(kuò)至99.999%) 硫(s)0.0005%~0.5000%(可擴(kuò)至99.999%) *分析時間:25~60s可調(diào),一般35s*分析誤差:碳優(yōu)于gb/223.69-1997標(biāo)準(zhǔn) 硫優(yōu)于gb/t223.68-1997標(biāo)準(zhǔn) *燃燒功率:小于2.5kva; *工作原理:電弧燃燒,紅外檢測
    更新時間:2025-05-14
    航空用阿爾門測量儀
    阿爾門測量儀的概述噴丸是利用金屬丸,玻璃丸,陶瓷丸來達(dá)到工件表面強(qiáng)化的工藝。實質(zhì)上,它在表畫形成殘余壓應(yīng)力,從而提高了抗壓力腐蝕和和抗擊循環(huán)疲勞的能力。特定零件表面修整所需的介質(zhì)的成分,尺寸,強(qiáng)度和覆蓋率都在發(fā)動機(jī)/車間手冊中有具體規(guī)定
    更新時間:2025-05-14
    數(shù)字雜音計
    xf802-y320數(shù)字雜音計,主要用于程控交換機(jī)電源,電話加權(quán)雜音電壓的測量。本儀表符合*電信聯(lián)合會(itu)建議的電話加權(quán)網(wǎng)絡(luò)雜音測試要求,并以*的數(shù)字信號處理方式來測量雜音
    更新時間:2025-05-14
    冷庫防寒背帶褲
    藏 青色冷庫防寒背帶褲,聚酰胺滌綸/棉制面料,折縫式接縫,內(nèi)部襯里為內(nèi)部為dupont填充物,內(nèi)部垂直絎縫間距12到15厘米,從服裝外部看不見接縫, 和服裝同長的雙拉鏈頭拉鏈
    更新時間:2025-05-14
    斑馬法檢測儀
    jc506-bm-2型斑馬法檢測儀是依據(jù)中華人民共和國標(biāo)準(zhǔn)gb11614-1999的技術(shù)要求而設(shè)計制造,用于檢測浮法玻璃的光學(xué)變形角(斑馬角)的測試儀器
    更新時間:2025-05-14
    全自動浮法玻璃斑馬角測試儀 玻璃斑馬角檢測儀 玻璃斑馬角測試儀
    工作環(huán)境應(yīng)清潔,光線較暗,無陽光直射,工作時室內(nèi)環(huán)境應(yīng)不隨外界環(huán)境變化變化,無灰塵,無烈振動。
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS CAV先進(jìn)型分析天平
    品牌:ohaus.cav64c(外校)價格:8800元.最大量程:65g到260g.可讀性:0.0001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,性能出眾,應(yīng)用豐富.
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS DV專業(yè)型分析天平
    品牌:ohaus.dv114價格:21500元.最大量程:81g到310g.可讀性:0.00001g到0.0001g.溫度觸發(fā)全自動內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,專業(yè)稱量,完美演繹.
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS EP專業(yè)型分析天平
    品牌:ohausep64c價格:14900元.最大量程:62g到210g.可讀性:0.0001g.溫度觸發(fā)全自動內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,性能優(yōu)異,追求卓越.
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS AR通用型分析天平
    品牌:ohausar224cn價格:8800元.最大量程:65g到220g.可讀性:0.0001g.自動外校,標(biāo)配rs232接口,經(jīng)典系列,全新呈現(xiàn).
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS CP基礎(chǔ)型分析天平
    品牌:ohauscp64價格:6500元.最大量程:65g到220g.可讀性:0.0001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,全新設(shè)計,優(yōu)異性價比.
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS EP專業(yè)型精密天平
    品牌:ohausep213c價格:13900元.最大量程:210g到8100g.可讀性:0.1g到0.001g.溫度觸發(fā)全自動內(nèi)校,標(biāo)配rs232接口,性能優(yōu)異,追求卓越.
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS CAV先進(jìn)型精密天平
    品牌:ohaus.cav212(外校)價格:4600元.最大量程:51g到8100g.可讀性:0.1g到0.001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,性能出眾,應(yīng)用豐富.
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS CP基礎(chǔ)型精密天平
    品牌:ohauscp512價格:4300元.最大量程:151g到4200g.可讀性:0.01g到0.001g.自動內(nèi)部/外部校正,標(biāo)配rs232接口,全新設(shè)計,優(yōu)異性價比.
    更新時間:2025-05-14
    OHAUS AR通用型精密天平
    品牌:ohausar522cn價格:4800元.最大量程:151g到4200g.可讀性:0.1g到0.001g.自動外校,標(biāo)配rs232接口,經(jīng)典系列,全新呈現(xiàn).
    更新時間:2025-05-14

    最新產(chǎn)品

    熱門儀器: 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗機(jī) 酸度計(PH計) 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑
    亚洲AV无码专区在线播放,无码人妻中文字幕在线,国产2020最新精品视频,丰满人妻精品一区二区
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